GST 420 PC - 技術參數 溫度范圍：RT ... 1200°C 升降溫速率：0.01 ... 20 K/min 樣品支架：金屬（螺旋夾具） 檢測系統：LVDT 測量范圍：5000 μm（彎曲量） 樣品尺寸：長度 260 mm，寬度 12mm 左右，厚度 6mm 左右。中間約 80 mm 的部位須上釉 測量氣氛：空氣，靜態...
DIL 402 E - 技術參數 溫度范圍：-180°C ... 500°C, RT ... 1600°C, (RT) ... 550°C ... 2400°C, (RT) ... 650°C ... 2800°C (取決于不同的可自由更換的爐體類型) 升降溫速率：0 ... 50 K/min（取決于爐體類型和溫度范圍） 樣品支架：石英支架（< 1100°C），氧化鋁支架（< 1700°C），石墨支架（2800°C） 測量范圍：500／5000 μm 樣品長度：25／50 mm 樣品直徑：最...
DIL 402 Expedis Classic - 技術參數 溫度范圍：RT … 1600°C 升溫速率：0.001 ... 50 K/min 測量系統：NanoEye（單樣品，或雙樣品/差示系統） 樣品支架：熔融石英或氧化鋁，可自由更換。 溫度準確度：1 K 溫度精度：0.1 K m.CTE（平均線膨脹系數）重復性：10 -8 1/K 測量范圍：± 5000 μm 分辨率：2 nm（全量程） 樣品長度：0…52mm（自動樣品長度測量） 氣體控制：1 路（...
DIL 402 Expedis Select/Supreme - 技術參數 溫度范圍：-180 ... 2800°C（多種爐體可選） 爐體滑軌：雙爐體（常規版本。第二爐體為選配）；單爐體（2800°C版本） 升溫速率：0.001 ... 50 K/min 或 100 K/min（不同爐體） 測量系統：NanoEye（單樣品，或雙樣品/差示系統） 樣品支架：熔融石英或氧化鋁，可自由更換。 溫度準確度：1 K 溫度精度：0.1 K m.CTE（平均線膨脹系數）重...
